Nikon ECLIPSE LV100AMS vereinfacht die industrielle Inspektion und Qualitätskontrolle
One-Click-Mikroskop automatisiert den gesamten Prüfprozess von der Bildaufnahme bis zur Analyse

Mit dem ECLIPSE LV100AMS präsentiert Nikon ein One-Click-Mikroskop, das den gesamten Prüfprozess von der Bildaufnahme bis zur Analyse automatisiert und in diesem Zuge die industrielle Inspektion und Qualitätskontrolle vereinfacht. Das System basiert auf den bewährten Industriemikroskop-Plattformen von Nikon und verbindet vollautomatisierte Inspektion mit KI-gestützter Bildanalyse. Dies erlaubt den Anwendern, ihre Inspektionsgeschwindigkeit zu steigern und stärkt das Vertrauen in die Inspektionsergebnisse.
Gerade Herausforderungen wie der Facharbeiterkräftemangel und die steigenden Anforderungen an den Durchsatz erschweren eine gleichbleibend hohe Inspektionsqualität ebenso wie die Fähigkeiten und Konstanz des Bedieners. Hier setzt das LV100AMS mit seiner One-Click-Ausführung an, wodurch selbst komplexe Prüfroutinen und anspruchsvolle Bildanalysen automatisch ausgeführt und Abweichungen reduziert werden. Dies ermöglicht wiederholbare, standardisierte Inspektionen über Schichten und Standorte hinweg, und damit neben der Verbesserung des Ertrags auch die Senkung der Nacharbeitsquote und eine Verkürzung der Einarbeitungszeit.
Die nahtlose Integration einer motorisierten Steuerung, einer automatisierten Bilderfassung und einer KI-gestützten Analyse in einem einzigen System liefert konsistente, objektive Ergebnisse bei minimalem Einfluss durch den Bediener. Mit dem Vorteil eines höheren Durchsatzes, skalierbarer Inspektionsstrategien und mehr Sicherheit bei Qualitätsentscheidungen.
www.industry.nikon.com/de-de/produkte/industriemikroskopie/industriemikroskope/eclipse-lv100ams/










